Как измерить сферу на детали
Как измерить сферу на детали
спирального окулярного микрометра
Рисунок 3 – Устройство кольцевого сферометра ИЗС-7
Таблица 1 – Конструктивные параметры опорных колец сферометра.
В случае, если вес измеряемого изделия недостаточен для преодоления измерительного усилия, применяют упор 10, который прижимает оптическую деталь к опорному кольцу сферометра.
Принципиальная оптическая схема сферометра ИЗС-7 представлена на рисунке 4.
Рисунок 4 – Принципиальная оптическая схема сферометра ИЗС-7
Свет от лампы 1 проходит зеленый светофильтр 2, конденсор 3 и равномерным пучком 4 освещает основную шкалу 5 с ценой деления 1 мм. Изображение осевого участка шкалы проектируется линзами 6 и 7 объектива микроскопа через призмы 9 и 10 в плоскость, расположенную между неподвижной шкалой 12 с ценой деления 0,1 мм и вращающейся отсчетной шкалой 11 со спиральным нониусом и ценой деления 0,001 мм. Отсчет снимается через линзы окуляра 13 и 14. Шкала 5, согласно принципа Аббе, расположена на одной линии с измерительным стержнем 17 и жестко связана с ним. Стержень перемещается поступательно под действием контролируемой детали 15, установленной на шарики 16 опорного кольца. Таким образом, перемещение основной шкалы 5 равно перемещению измерительного стержня 17. Апертурная диафрагма 8, установленная вблизи задней фокальной плоскости микрообъектива, предназначена для формирования телецентрического хода главного луча в пространстве предметов.
Отсчеты производят по миллиметровой шкале с помощью измерительного микроскопа со спиральным окуляр-микрометром. Для установки начального отсчета служит винт 8 (рисунок 3). В поле зрения отсчетного микроскопа (рисунок 5) одновременно видны: три крупных штриха миллиметровой шкалы, обозначенные крупными цифрами «13», «14», «15», неподвижная вертикальная шкала десятых долей миллиметра с делениями от 0 до 10 и круговая шкала для отсчета сотых и тысячных долей миллиметра, а также двойные витки спирали. Чтобы произвести отсчет, необходимо предварительно маховичком 9 подвести двойной виток спирали так, чтобы миллиметровый штрих в зоне двойных витков оказался точно по середине между линиями витков. На рисунке 5 показан пример отсчета, равный 14,3533 мм.
Рисунок 5 – Поле зрения спирального окуляр-микрометра
2. Кривовяз Л.М., Пуряев Д.Т., Знаменская М.А. Практика оптической измерительной лаборатории. М., Машиностроение, 1974, стр. 139 – 147;
3. Сферометр ИЗС-7. Инструкция к пользованию. Л. ЛОМО, 1964;
4. Конспект лекций по курсу «Оптические измерения».
Устройство для измерения внутренних сфер
РЕСПУБЛИК (я)ю G 01 В 5/22
ГОСУДАРСТВ Е ННЫ Й КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4/61651/28
¹ 979843, кл, 6 01 В 5/22, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ
В НУТРЕ Н НИХ СФ EP (57) Изобретение относится к средствам измерения и может быть использовано для измерения радиусов сфер и контроля их формы, Целью изобретения является рас„„SU „„1698619 А1 ширение номенклатуры измеряемых изделий. Устройство содержит корпус 1, устанавливаемый посредством равноплечих рычагов 2 по оси контролируемой сферы, Обкатывают контролируемую сферу до получения наименьшего изменения показаний преобразователя 11 линейных перемещений, используя средства регулировки устройства. Параметры контролируемой сферы определяют, используя величину расстояния от конца измерительного наконечника преобразователя, полученную во время контактирования с поверхностью сферы, до площадки 12. При этом расстояние от площадки 12 до оси шарнира 9 заранее известно. 1 ил.
Редактор О.Спесивых Техред M,Морген.гал Корректор M.Øàðîùè
Заказ 4384 Тираж Подписное
ВНИИПИ- Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
Производственно-издательский комбинат «Патент», г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
Изобретение относится к средствам измерения и может быть использовано для измерения радиусов сфер и контроля их формы, Целью изобретения является расширение номенклатуры измеряемых изделий, На чертеже представлен общий вид устройства.
На одном конце корпуса закреплен шарнир 9, в котором установлена пеноль 10 с возможностью регулировки вдоль своей оси. В пеноли 10 размещен соосно ей преобразователь 11 линейных перемещений.
На том же конце корпуса 1 выполнена площадка 12, перпендикулярная его оси. Стебель 4 имеет возможность регулировки вдоль оси корпуса 1.
Устройство работает следующим образом.
Устанавливают устройство базовыми элементами 7 в контролируемую сферу, упирая базовые элементы 8 в торец детали.
Перемещая стебель 4 вдоль оси корпуса 1 и пеноль 10 в шарнире 9, добиваются того, чтобы при покачивании пеноли 10 преобразователь 11 линейных перемещений имел наименьшее изменение показаний.
Снимают устройство с измеряемой детали и определяют параметры контролируемой сферы, используя величину расстояния от конца измерительного наконечника преобразователя 11, полученную во время контактирования с поверхностью сферы, до площадки 12, При этом расстоя5 ние от площадки 12 до оси шарнира 9 заранее известно.
Устройство для измерения внутренних сфер, содержащее корпус, базовые элемен10 ты в виде шариков, связанных с корпусом с помощью узла регулировки, предназначенного для изменения положения базовых элементов в установочной плоскости, перпендикулярной оси корпуса, шарнир, уста15 новленный на одном конце корпуса, пеноль, установленную в шарнире с возможностью регулировки ее положения вдоль своей оси в шарнире, и индикатор линейного перемещения, установленный соосно в пеноли, о т20 л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения номенклатуры измеряемых изделий, оно снабжено дополнительными базовыми элементами, выполненными в виде роликов и установленными на узле регулировки так, 25 что их оси расположены в плоскости, параллельной установочной плоскости, узел регулировки выполнен в виде равноплечих рычагов, одни концы которых закреплены шарнирно в корпусе с.. чметрично его оси, а
30 на других концах котоГых закреплены базовые элементы, средняя часть рычагов с помощью промежуточных звеньев одной длины шарнирно связана с втулкой, расположенной на корпусе с возможностью пере35 мещения вдоль его оси и подпружиненной в осевом направлении, шарнирно закрепленные концы рычагов выполнены с возможностью синхронной регулировки их положения вдоль оси корпуса, а на одном
40 конце корпуса выполнена площадка, перпендикулярная его оси.
Устройство для измерения диаметров сферических поверхностей
РЕСПУБЛИК (19) (11) (s1)s G 01 В 5/22
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР (21) 4814370/28 (22) 16.04.90 (46) 23,10.92. Бюл. № 39 (71) Производственное объединение «Златоустовский машиностроительный завод» (72) В.И.Баранов (56) Авторское свидетельство СССР № 1502956, кл. G 01 В 5/22, 1987.
Авторское свидетельство СССР
¹ 11551111558833, кл. G 01 В 5/22, 1987.
Авторское свидетельство СССР
¹1404791,,кл. G 01 В 5/08, 1986. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРОВ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к средствам измерения внутренних сфер. Цель изобретения — повышение точности и и роизводител ь ности измерения. Устройство состоит из корпуса, в котором измериИзобретение относится к средствам измерения радиусов внутренних сфер.
Известно устройство, содержащее корпус, отсчетный узел, базовый элемент и контактный измерительный щуп.
Недостатками этого устройства является невысокая точность и производительность измерения, обусловленные тем, что устройство необходимо настраивать по эталонным сферическим поверхностям, Известно устройство для измерения внутренних сферических поверхностей, содержащее корпус, отсчетный узел, базовые элементы и контактный измерительный щуп. тельный элемент жестко закреплен на штоке перпендикулярно его оси, неподвижная часть преобразователя размещена на корпусе, а со штоком взаимосвязана подвижная его часть. Базовый элемент и измерительный элемент выполнен в виде параллельных дисков, торцы которых скошены, а диаметр базового элемента в два раза больше диаметра измерительного элемента. При измерении производят обнуление Устройства. Устанавливают устройство на деталь так, чтобы верхний диск коснулся контролируемой поверхности. Под действием пружины нижний диск опустится и войдет во взаимодействие с контролируемой деталью. Значение величины Н вЂ” расстояния между дисками поступает на электронную систему, где она обрабатывается и результат высвечивается на ЦОУ системы.
Недостатками известного устройства является неудовлетворительная точность и производительность контроля, обусловленные необходимостью настройки его по эталонным сферическим поверхностям.
Наиболее близким по технической сущности к предложенному является устройство. содержащее корпус с жестко закрепленным базовым элементом, установленный в полости корпуса с возможностью осевого перемещения и фиксации штока с измерительным элементом, и преобразователь.
Недостатками этого устройства является низкая точность и производительность измерения, обусловленные необходимо1770729 стью настройки его по эталонным криволинейным поверхностям.
Целью изобретения является повышение точности и производительности измерения.
Эта цель достигается тем, что в устройстве для измерения диаметров сферических поверхностей, содержащим полый корпус с жестко закрепленным базовым элементом, установленный в полости корпуса с возможностью осевого перемещения и фиксации шток с измерительным элементом и преобразователь, взаимодействующий со штоком, измерительный элемент жестко закреплен на штоке перпендикулярно его оси, неподвижная часть преобразователя размещена на корпусе, а со штоком взаимосвязана подвижная часть преобразователя, базовый и измерительный элементы выполнены в виде параллельных дисков, торцы которых скошены, а диаметр базового элемента в два раза больше диаметра измерительного элемента.
На чертеже изображен общий вид устройства.
Устройство состоит из корпуса 1, на котором укреплен базовый элемент, выполненный в виде высокоточного диска 2 диаметром С. Диск 2 выполнен со скосом
«а» для лучшего взаимодействия с контролируемой поверхностью. Взаимодействие со сферической поверхностью происходит по линии, точнее по прилегающей окружности, что исключает влияние местных погрешностей контролируемой поверхности и повышает точность базирования, а следовательно, и точность измерения.
В корпусе 1 размещен подвижный шток
На корпусе 1 укреплена ручка 5. Перемещение стержня 3 в корпусе 1 фиксируется винтом 6. В ручке 5 размещен преобразователь 7 линейных перемещений (его неподвижная часть). Шток 3 подпружинен пружиной 8. Сигналы с преобразователя 7 поступают нз электронную систему 9, Устройство устанавливается на контролируемой детали 10.
Процесс измерения состоит в следующем.
5 Радиус кривизны R определяется по формуле
8h где С вЂ” диаметр базового элемента;
10 h — расстояние от линии касания базового элемента с контролируемой поверхностью до нижней точки этой поверхности 1.
Расстояние между базовым элементом и щупом (между линиями касания верхнего и
«5 нижнего дисков равно Н.
Преобразовывая эту формулу в общем виде, получим
Следствие того, что С1 = —, после преобразования получим
16 где h> — расстояние от линии касания нижнего диска 4 до ижней точки сферической поверхности I.
Преобразуя формулу Н = h-hl, получим
4 16 из которой определяем радиус кривизны R
40 После преобразований получим
Процесс измерения радиуса кривизны
45 заключается в измерении расстояния между линиями касания верхнего и нижнего дисков 2 и 4 с контролируемой поверхностью устройством, после чего результат обрабатывается электронной системой по специ50 а л ь н о и п р о г р а м м е, т.е. решается уравнение, Я Д Щ
55 и результат высвечивается на ЦОУ электронной системы 9.
Работает устройство следующим образом.
Производят обнуление устройства, для чего устанавливают расстояние между дис1770729 ками 2, 4 равное определенной величине, например, Н = 10 мм и ЦОУ электронной системы устанавливают на цифру 10 (при абсолютном методе измерения) или на О (при относительном методе измерения). Установка производится один раэ (кроме периодической поверки). Устанавливают устройство на контролируемую деталь 10 таким образом, чтобы диск 2 коснулся контролируемой поверхностью. Усилие прижима соответствует весу устройства. Под действием пружины 8 нижней диск 4 опустится и войдет во взаимодействие с контролируемой деталью 10. Усилие пружины 8 меньше веса устройства в два раза, поэтому диски 2, 4 взаимодействуют с контролируемой деталью с одинаковым усилием, Пусть
P — вес устройства, P> — усилие пружины 8, P = 2P >. Q — усилие взаимодействия диска 2.
0 — усилие взаимодействия диска 4.
Q1= Р1, Q= P Qz, где Q2 — реакция от пружины 8.
Таким оброазом, Qz = Р; Q = P — Р1 =
Значение величины Н поступает на электронную систему, где оно обрабатывается и результат высвечивается на ЦОУ системы.
Вследствие того, что базовый элемент и контактный щуп выполнены в виде высокоточных дисков 2, 4, причем диаметр первого в два раза больше второго, появилась возможность с более высокой точностью измерять радиусы кривизны сферических поверхностей P как с центральным отвер5стием,,так и без него,,причем на деталях с разными радиусами P посредством измерения расстояния Н между этими дисками 2, 4 с последующим преобразованием этого расстояния.
10 Формула изобретения
Устройстцо для измерения диаметров сферических поверхностей, содержащее полый корпус с жестко закрепленным базовым элементом, установленный в полости с
15 возможностью осевого перемещения и фиксации шток с измерительным элементом и преобразователь, взаимодействующий со штоком, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и производи20 тельности измерения, измерительный элемент жестко закреплен на штоке перпендикулярно его оси, неподвижная часть преобразователя размещена на корпусе, à со штоком взаимосвязана подвиж25 ная часть преобразователя, базовый и измерительный элементы выполнены в виде параллельных дисков, торцы которых скошены, а диаметр базового элемента в два раза больше диаметра измерительного эле30 мента.
Составитель Е. Вакумова
Техред М.Моргентал Корректор А. Ворович
Производственно-издательский комбинат «Патент», г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
Заказ 3731 Тираж Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
Измерения сферических деталей
16 сообщений в этой теме
Рекомендуемые сообщения
Присоединиться к обсуждению
Вы можете ответить сейчас, а зарегистрироваться позже. Если у вас уже есть аккаунт, войдите, чтобы ответить от своего имени.
Информация
Недавно просматривали 0 пользователей
Ни один зарегистрированный пользователь не просматривает эту страницу.
Популярные темы
Автор: AtaVist
Создана 11 Августа 2017
Автор: larina 38
Создана 1 Декабря
Автор: Gp-mike
Создана во вторник в 06:27
Автор: владимир 332
Создана 15 Ноября
Автор: Mariya888
Создана 5 Февраля
Автор: AtaVist
Создана 11 Августа 2017
Автор: larina 38
Создана 1 Декабря
Автор: Mariya888
Создана 5 Февраля
Автор: GTREF
Создана в субботу в 12:29
Автор: Наталья Щ
Создана 16 Декабря
Автор: AtaVist
Создана 11 Августа 2017
Автор: larina 38
Создана 1 Декабря
Автор: Геометр
Создана 2 Декабря
Автор: Дмитрий1971
Создана 5 Января 2020
Автор: Metrolog-sever
Создана 2 Июля 2014
Автор: AtaVist
Создана 11 Августа 2017
Автор: berkut008
Создана 16 Января 2019
Автор: ЭДСка
Создана 23 Ноября 2020
Автор: Metrolog-sever
Создана 2 Июля 2014
Автор: владимир 332
Создана 3 Декабря 2019
Автор: AtaVist
Создана 11 Августа 2017
Автор: berkut008
Создана 16 Января 2019
Автор: Metrolog-sever
Создана 2 Июля 2014
устройство для измерения радиуса сферических полированных поверхностей
Использование: для измерения радиуса сферических полированных поверхностей. Сущность: устройство содержит расположенные последовательно вдоль оси контроля автоколлимационное устройство, интерферометрическую насадку с выпуклой или вогнутой эталонной сферической поверхностью, устройство для установки и осевого перемещения контролируемой детали, а также устройство для измерения величины перемещения контролируемой детали. Радиус эталонной поверхности R эт отличается от радиуса измеряемой поверхности R изм на величину, не превышающую величину максимально возможного перемещения контролируемой детали. Измеряемый радиус R изм определяется с помощью математической формулы. Технический результат: расширение диапазона измерения величины радиуса сферической поверхности до значений, значительно превышающих величину перемещения контролируемой детали. 4 ил.
Формула изобретения
Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиуса сферических полированных поверхностей, и может быть использовано при контроле оптических деталей.
Известно устройство [1] для измерения радиуса полированных сферических поверхностей с помощью пробных стекол методом подсчета колец Ньютона. Измерение отклонения радиуса полированной поверхности от эталонного осуществляется интерференционным способом путем наложения рабочего пробного стекла на деталь. Между поверхностями детали и рабочего пробного стекла возникает интерференционная картина, по которой судят о характере и величине отклонения кривизны. Известное устройство [1] предусматривает обязательное изготовление пробного стекла и не пригодно для контроля деталей с высокими требованиями к чистоте поверхности, так как при наложении пробного стекла на деталь возможно нанесение мелких царапин на поверхность контролируемой детали.
Известна также измерительная машина [2], предназначенная для измерения радиуса вогнутых сферических поверхностей. Машина состоит из станины с направляющими, по которым перемещается передняя бабка с визирным и отсчетным микроскопами. Задняя бабка закреплена на станине. В держателе задней бабки устанавливается измерительное вогнутое стекло. Радиус кривизны поверхности определяется как разность отсчетов по шкале прибора при наведении визирного микроскопа на резкое изображение вогнутой поверхности и на резкое автоколлимационное изображение сетки визирного микроскопа. Недостатком известного устройства [2] является то, что оно пригодно только для измерения радиусов вогнутых поверхностей. Кроме того, величина измеряемого радиуса ограничивается величиной перемещения поверяемой детали.
Известен кольцевой сферометр [3], предназначенный для измерения радиусов кривизны пробных стекол. В корпусе сферометра находится измерительный стержень с прикрепленной к нему стеклянной шкалой. Под действием противовеса измерительный стержень стремится занять наивысшее положение и прийти в соприкосновение с контролируемой деталью, размещенной на трех шариках кольца. Помещая на шарики кольца сначала плоскопараллельную пластинку, а затем измеряемую деталь и сделав отсчет по шкале, определяют стрелку прогиба сферы. Зная величину стрелки прогиба, а также радиус кольца и радиус шарика, можно вычислить радиус как вогнутой, так и выпуклой поверхности сферы. Недостатком известного устройства [3] является то, что на этом приборе отсутствует возможность одновременно с измерением радиуса сферы осуществлять контроль формы сферической поверхности.
Указанные недостатки устранены в известном интерферометре [4], конструкция которого позволяет измерять не только радиус сферы полированной поверхности, а осуществлять также контроль формы сферической поверхности. По своей технической сущности интерферометр [4] является наиболее близким к предлагаемому изобретению, в связи с чем он выбран в качестве прототипа. Оптическая схема прототипа представлена на фиг.1. Интерферометр [4] содержит установленное на горизонтальном столе автоколлимационное устройство с источником излучения и другими элементами, необходимыми для формирования плоского волнового фронта. Далее вдоль оси контроля располагаются интерферометрическая насадка и устройство для установки контролируемой детали, имеющее возможность перемещения вдоль оси контроля. Интерферометрическая насадка снабжена эталонной сферической поверхностью. В процессе измерения радиуса полированной сферической поверхности центр кривизны О эталонной поверхности совмещается поочередно с центром сферы контролируемой детали и с поверхностью сферы. С помощью специального устройства или, например, с помощью измерительной шкалы величина перемещения L контролируемой детали замеряется. Радиус измеряемой сферической поверхности R изм равен величине перемещения детали L (см. фиг.1). Таким образом, в интерферометре [4] величина измеряемого радиуса ограничивается величиной перемещения детали, что является его существенным недостатком.
Задачей изобретения является расширение диапазона измерения величины радиуса сферической поверхности до значений, значительно превышающих величину перемещения контролируемой детали.
Технический результат, достигнутый в предлагаемом изобретении, получен за счет следующего. Введенное устройство для измерения расстояния между вершинами измеряемой и эталонной поверхностей позволяет вместо непосредственного измерения радиуса поверхности, равного величине перемещения детали при совмещении центра эталонной сферы интерферометрической насадки сначала с центром сферы, а затем с вершиной измеряемой поверхности, измерять только отклонение радиуса измеряемой поверхности от эталонного. При этом, зная значение величины радиуса эталонной поверхности, легко найти величину радиуса измеряемой поверхности. Одновременно с измерением радиуса контролируют и форму поверхности поверяемой детали в положении, когда центры поверхностей совмещены. При этом размеры устройства, определяемые величиной перемещения контролируемой детали, могут быть значительно меньше измеряемого радиуса, величина которого вообще не зависит от величины перемещения детали.
Разница величин радиусов эталонной и измеряемой поверхностей не должна превышать величину перемещения детали, которая ограничена размерами установки и пределами измерения системы для измерения перемещения детали. Это требует в составе универсальной установки для контроля радиусов и формы сферических полированных поверхностей наличия комплекта интерферометрических насадок с радиусами эталонных сферических поверхностей, отличающихся друг от друга на величину измеряемого перемещения детали.
Таким образом, совокупность указанных выше признаков позволяет решить поставленные задачи.
Предлагаемое изобретение иллюстрируется чертежами.
На фиг.2 и 3 представлены принципиальные схемы предлагаемого устройства, предназначенного для измерения радиусов вогнутых и выпуклых поверхностей соответственно;
на фиг. 4 представлена принципиальная схема устройства для измерения расстояния между вершинами измеряемой и эталонной поверхностей.
Устройство, предназначенное для измерения радиусов вогнутых поверхностей, изображенное на фиг.2, содержит расположенные вдоль оси контроля автоколлимационное устройство 1, интерферометрическую насадку 2 с выпуклой эталонной сферической поверхностью известного радиуса R эт и каретку 3 для установки контролируемой детали 4. Каретка 3 имеет возможность перемещения вдоль оси контроля по направляющим 5. Величина перемещения L определяется по шкале 6. На оси контроля между эталонной и контролируемой поверхностями установлено устройство 7, предназначенное для измерения расстояния А между вершинами измеряемой 4 и эталонной 2 поверхностей, принципиальная схема которого представлена на фиг.4.
Устройство, предназначенное для измерения радиусов выпуклых поверхностей, изображенное на фиг.3, содержит расположенные вдоль оси контроля автоколлимационное устройство 1, интерферометрическую насадку 8 с вогнутой эталонной сферической поверхностью известного радиуса R эт и каретку 3 для установки контролируемой детали 9. Каретка 3 имеет возможность перемещения вдоль оси контроля по направляющим 5. Величина перемещения L определяется по шкале 6. На оси контроля между эталонной и измеряемой поверхностями установлено устройство 7, предназначенное для измерения расстояния А между вершинами измеряемой и эталонной поверхностей.
Изображенные на фиг.2 и 3 устройства должны быть укомплектованы наборами интерферометрических насадок с радиусами, отличающиеся друг от друга на величину, не превышающую L.
Представленное на фиг.4 устройство 7 содержит первый 10 и второй 11 измерительные щупы. Измерительные щупы 10 и 11 связаны между собой упругой связью, например пружиной 12, под действием которой они могут перемещаться относительно друг друга в осевом направлении. Кроме того, измерительные щупы 10 и 11 связаны между собой измерительной системой 13, которая служит для измерения вышеупомянутого относительного перемещения измерительных щупов 10 и 11.
Измерение радиуса сферической полированной поверхности осуществляется следующим образом.
Из этого положения контролируемая деталь (поз. 4 на фиг.2 или поз. 9 на фиг.3) перемещается до соприкосновения измеряемой поверхности с наконечником второго измерительного щупа 11 устройства 7 (см. фиг.2 и 3). Наконечник первого измерительного щупа 10 устройства 7 при этом касается эталонной сферической поверхности. В этом положении измеряемой детали снимается второй отсчет по шкале 6.
Таким образом, предлагаемое изобретение благодаря применению устройства для измерения расстояния между вершинами эталонной и контролируемой поверхностей и интерферометрической насадки с радиусом, отличающимся от радиуса измеряемой поверхности на величину, не превышающую величину перемещения детали, позволяет измерить любой радиус на установке, имеющей весьма ограниченные размеры. Например, если принять величину перемещения детали 1 м, а радиус эталонной поверхности 40 м, то на установке, длина которой составит приблизительно 1,5 м, можно измерить радиус от 39 до 40 м. При наличии комплекта интерферометрических насадок с радиусами эталонных поверхностей через 1 м (1, 2, 3. 40 м) можно измерить любой радиус в пределах от 0 до 40 м.